Лабораторија за структурна карактеризација на материјали

Опременост и применливост

X-Ray Diffraction

лаб. за структурна карактеризација

XRD

     На Институтот за хемија постои најсовремен дифрактометар за анализа на кристални супстанци на неоргански, органски или метал-органски соедине­нија или, пак, минерали, легури, тенки филмови, полупроводници, суперпро­водници и други материјали со разно­видна примена во науката, техниката, градежништвото, медицината, фарма­ци­јата, уметноста и воопшто во секојдневниот живот. Анализата на супстанците може да се врши од собна температура до 1400 °C.

Можности за анализа

     За посеопфатна слика за разнообразната примена на дифрак­цијата на рендгенските зраци на спрашени обрасци во разни подрачја наведени се некои од нив:

откривање и карактеризација на минерални богатства

• изучување на азбестни материјали
• изучување на составот на калкулуси во бубрег, жолчка и други органи
• испитување на својствата на тенки филмови
• изучување на составот и својствата на разни градежни материјали
• изучување на составот и структурата на разни фрески, теракоти, мо­не­ти и други културни блага
• идентификување и карактеризирање на разни материјали од областа на криминалистиката и одбраната
• примена во форензика за идентификација на разни материјали
• откривање присуство на штетни материи што ја загадуваат животната средина и нивно карактеризирање
• изучување на составот и својствата на разни видови легури
• испитување на разни видови полупроводници и суперпроводници

Одговорни лица за контакт

Проф. д-р Петре Макрески

тел. 02/3249955 или 070635839

е-пошта: petremak@pmf.ukim.mk

Проф. д-р Виктор Стефов

тел. 324-9942

е-пошта: viktorst@pmf.ukim.mk