Лабораторија за структурна карактеризација на материјали

Опременост и применливост


X-Ray Diffraction


лаб. за структурна карактеризација


XRD


 

     На Институтот за хемија постои најсовремен дифрактометар за анализа на кристални супстанци на неоргански, органски или метал-органски соедине­нија или, пак, минерали, легури, тенки филмови, полупроводници, суперпро­водници и други материјали со разно­видна примена во науката, техниката, градежништвото, медицината, фарма­ци­јата, уметноста и воопшто во секојдневниот живот. Анализата на супстанците може да се врши од собна температура до 1400 °C.



Можности за анализа

 

     За посеопфатна слика за разнообразната примена на дифрак­цијата на рендгенските зраци на спрашени обрасци во разни подрачја наведени се некои од нив:

откривање и карактеризација на минерални богатства

  • изучување на азбестни материјали
  • изучување на составот на калкулуси во бубрег, жолчка и други органи
  • испитување на својствата на тенки филмови
  • изучување на составот и својствата на разни градежни материјали
  • изучување на составот и структурата на разни фрески, теракоти, мо­не­ти и други културни блага
  • идентификување и карактеризирање на разни материјали од областа на криминалистиката и одбраната
  • примена во форензика за идентификација на разни материјали
  • откривање присуство на штетни материи што ја загадуваат животната средина и нивно карактеризирање
  • изучување на составот и својствата на разни видови легури
  • испитување на разни видови полупроводници и суперпроводници


Одговорни лица за контакт

Проф. д-р Петре Макрески

тел. 02/3249955 или 070635839

е-пошта: petremak@pmf.ukim.mk

 

Проф. д-р Виктор Стефов

тел. 324-9942

е-пошта: viktorst@pmf.ukim.mk



© 2017. Институт за хемија, ПМФ, УКИМ, Скопје.