Дифракциони методи за испитување на кристали

Основи на дифракционите методи. Споредба со спектроскопските методи. Рендген­ска дифракција. Монокристални обрасци. Собирање на експе­риментални податоци. Разни видови корекции на рефлексите. Опреде­лување на просторната група. Фазен проблем и негово решавање. Метода на тежок атом (Patterson-ова синтеза; Fourier-ова синтеза). Метода на проба и погрешка. Метода на изоморфна замена. Директни методи. Аномална дисперзија и апсолутна конфи­гу­рација. Диферентна Fourier-ова мапа. Уточнување на структурата. Поли­крис­тални обрасци. Прин­ципи на методата на спрашени обрасци. Индексирање на линиите. Примена на методата на спрашени обрасци. Неутронска диф­рак­ција. Основи на неут­рон­ска­та дифракција. Споредба со рендгенската диф­ракција. При­мена на неутронската дифракција. Деформациона електрон­ска густина. Електронска дифракција. Основи на електронската дифрак­ција. Спо­редба со рендгенската дифракција. Примена на електрон­ска­та диф­рак­ција.  Кристалографски бази на податоци и нивно користење. 

 

Литература:

J. P. Glusker, K. N. Trueblood, Crystal Structure Analysis, Second Edition, Oxford University Press, Oxford, 1985.

J.- J. Rousseau, Basic Crystallography, John Wiley & Sons, Chichester, 1999.

C. Giacovazzo, H. L. Monaco, D. Viterbo, F. Scordari, G. Gilli, G. Zanotti, M. Catti, Fundamentals of Crystallography, Ed. C. Giacovazzo, IUCr, Oxford Science Publicatrions, 1995.

H. Stout and L. H. Jensen, X-ray Structure Determination, Collier-Macmillan Limited, London, 1968.

    Предметот е вклучен во следните насоки:


    Следни испити од овој предмет:

    Материјали

© 2024. Институт за хемија, ПМФ, УКИМ, Скопје.